तेजी से तापमान परिवर्तन परीक्षण कक्षतेजी से तापमान परिवर्तन या क्रमिक परिवर्तन की स्थिति के तहत पूरी मशीन और इलेक्ट्रॉनिक और इलेक्ट्रिकल उत्पादों के कुछ हिस्सों की अनुकूलन क्षमता परीक्षण के लिए उपयुक्त है। तापमान त्वरण तकनीक का उपयोग बाहरी पर्यावरणीय तनाव को बदलने के लिए किया जाता है, जिससे उत्पाद थर्मल तनाव और तनाव पैदा करता है।
रैपिड टेम्परेचर चेंज टेस्ट चैंबर के 6 महत्वपूर्ण भाग
1. प्रशीतन प्रणाली
LIB प्रशीतन प्रणाली यांत्रिक प्रशीतन कम्प्रेसर और पर्यावरण के अनुकूल रेफ्रिजरेंट का उपयोग करती है। चूँकि परीक्षण के दौरान तापमान -50 डिग्री तक पहुँचना चाहिए, एकल-चरण प्रशीतन आवश्यकताओं को पूरा करना मुश्किल है। तेजी से तापमान परिवर्तन परीक्षण कक्ष की प्रशीतन विधि आम तौर पर एक द्विध्रुवीय प्रशीतन कंप्रेसर का उपयोग करती है।
2. ताप प्रणाली
तेजी से तापमान परिवर्तन परीक्षण कक्ष की ताप प्रणाली मुख्य रूप से उच्च शक्ति प्रतिरोध तारों से बनी होती है। तेजी से बदलते परीक्षण कक्ष के तेजी से तापमान में वृद्धि को पूरा करें।
नियंत्रण प्रणाली
सेंसर
प्रशीतन प्रणाली
एयर सर्कुलेशन सिस्टम
3. नियंत्रण प्रणाली
नियंत्रण प्रोग्राम करने योग्य नियंत्रक को गोद लेता है, कई भाषाओं का चयन किया जा सकता है, प्रोग्रामिंग और निश्चित मान सेट किया जा सकता है, पूरी तरह से स्वचालित संचालन, कंप्यूटर, वाईफाई, यूएसबी, नेटवर्क पोर्ट से जोड़ा जा सकता है
4. आर्द्रता प्रणाली
तेजी से तापमान परिवर्तन परीक्षण कक्ष की आर्द्रीकरण विधि आमतौर पर भाप आर्द्रीकरण विधि को अपनाती है।
5. सेंसर सिस्टम
तेजी से तापमान परिवर्तन परीक्षण कक्ष के सेंसर मुख्य रूप से तापमान और आर्द्रता सेंसर होते हैं। सबसे व्यापक रूप से उपयोग किए जाने वाले तापमान सेंसर गीले और सूखे बल्ब और विद्युत चुम्बकीय सेंसर हैं।
6. वायु परिसंचरण तंत्र
वायु संचलन प्रणाली आमतौर पर एक केन्द्रापसारक प्रशंसक द्वारा पूरी की जाती है। इसके अलावा, LIB परीक्षण कक्ष का नमूना रैक छिद्रण के लिए डिज़ाइन किया गया है, और वायु परिसंचरण एक समान है।
